Пучок света от лампы

Пучок света от лампы накаливания 1 проходит через конденсор 2 и направляется через поляризатор 3 на измеряемый образец 4. Через щель 5 и объектив 6 свет падает на анализатор 7, скрещенный с поляризатором 3, и проходит на измерительный фотоэлемент 8. Параллельно измерительному фотоэлементу подключен компенсационный фотоэлемент 9, на который падает пучок света от источника 10 через нейтральный клин 11. Внутренние напряжения в различных плоскостях измеряют путем автоматического перемещения столика с образцом со скоростью 4 мм/мин. Сигнал регистрируют с помощью электронного потенциометра. Следует отметить, что в основном были исследованы 0В покрытий.

Очевидно, что все закономерности сохраняются и для клеевых швов. Это обусловлено тем, что в том и другом случае ов связаны с изменением в структуре полимерной системы.

В клеевых сопряжениях количественное значение ав должно быть несколько большим, чем величина, полученная для покрытий, вследствие дополнительного пограничного слоя. Это должно особенно проявляться при склеивании разнородных материалов, имеющих значительную разницу коэффициентов линейного расширения.

Уже в ранних работах было установлено влияние отдельных компонентов полимерной системы и различных факторов на ств. В частности, было выявлено, что увеличение молекулярного веса полимера вызывает рост напряжений.

Введение пластификаторов улучшает релаксационные процессы, однако при пластификации полимеров с различным молекулярным весом это влияние сказывается в большей степени на полимере с высоким молекулярным весом и практически не изменяет св в низкомолекулярном полимере. Наличие растворителей в композиции на первой стадии формирования пленок оказывает пластифицирующее действие, но затем по мере улетучивания растворителей происходит интенсивный рост 0Е. Определенное влияние оказывает и температура кипения растворителя: чем она выше, тем медленнее и равномернее будет удаление растворителя и соответственно тем меньше ов.